SMA AF/OIS自动功能测试设备
产品介绍
  • 适用于:用于各类手机、平板电脑等摄像头模组中SMA的AF和OIS的全自动功能测试

  • 特点:

    • 采用高速5次元测试仪(X /Y /Z /θ /θx /θy)

    • 配备6 轴调节器(X /Y /Z /θ /θx /θy)

    • 全自动不停机上下料

  • 设备精度:

    • 线性精度:3um;马达运行精度:5um

    • Dummy镜头平面度在5um以内,光洁度达到12K

    • 测试平台平面度在5um以内,X/Y调节轴精度3~4um

  • UPH: 240 (测试时间45S)