适用于：IC 功能测试机 & 外观检测自动化 

功能：

功能测试: ICT 测试 (e.g. DC, DVDS, RAS, RG, QA…)

AOI: 同时检测6个面的外观，镭射缺陷，pin角缺损…

分选: 编带封装

测试： ICT 测试 + 所有面的外观检测

上料: 振动盘

下料: 编带

换盘：自动换盘，配合VGA实现无人操作

UPH: 12000 （测试时间200ms）

分Bin:

功能bin: 8 个 bins

外观 bin: 3 个 bins

尺寸: 2000*1300*1700mm 

测试工位: 24