适用于：半导体IC外观检测

检测精度：0.05mm

特点：

可检测产品6个不同面

可检测IC不良多达30种（可依客户需求开发）

可兼容IC大小从8mm到40mm

高速转塔快速分料

料管重力式上下料

UPH： 18000 

检测准确率：> 99%

检测项目：

塑料体类缺陷（毛边、残胶、崩裂、刮伤）

引脚类缺陷（裸铜、毛刺、弯曲、变形、断角、长短脚、偏移…）

散热片缺陷（镀层玷污、溢胶、毛边、刮伤）

印记缺陷